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電化學遷移現象是指在印刷電路板等中，由于導體中熔化的金屬離子在導體之間沉淀而降低的絕緣特性。電化學作用通過在溫度和濕度環境中在導體之間施加電壓來促進。絕緣中的雜質離子也可能受到影響。
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RTm-100/30DC系列對VIA孔、通孔等導通部分的大電流施加應力時的導通可靠性評價。RTm-100系列測量系統可捕獲傳導阻力小于mΩ的變化。結合高低溫沖擊箱，進行數據測量和溫度周期變化一起使用。高精度模擬測量電路還可以檢測測試周期內早期的微小變化。此外，半導體繼電器高速掃描功能，完全遵循短測試周期，不改變每個測量周期時間。
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