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為Topcon、HJT、鈣鈦礦等高效電池，在工藝、制程、品質環節提供的研發、工藝驗證和調整、質量進出料檢驗等環節的測試儀器設備解決方案。優化客戶采購成本和周期。

針對IEC61215、IEC61730等測試標準，為組件制造商認證實驗室及封裝材料的研發，材料導入評估環節提供全面的技術服務和實驗室設備交鑰匙方案。

提供MOSFET，Diode，IGBT器件和模塊的可靠性測試儀器（TCT、HAST、Salt，HTOL）和靜態參數分析儀；使用熱流罩對器件和模塊快速溫度控制，配合ATE進行工程開發和產品手動篩選測試。

對LOGIC、ASIC、AI、5G、車用電子、邊緣計算的10W/50W中高功率集成電路產品的可靠性測試需求而設計；我們提供環境可靠性（TCT、TST、BHAST、）設備，和專用的HTOL/LTOL的設備用于動態老化測試，另外我們對芯片性能ATE測試機上加配熱流，進行對溫度條件測試。